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高低温气流冲击仪

适用于各类半导体芯片（如：Flash、EMMC等）、PCB电路板、光通信产品（如：收发器、SFP光模块等）和电子行业产品的高低温测试、温度循环测试、温度冲击测试等可靠性试验和失效分析等。

1、左右两侧开引线孔
2、自复叠式制冷系统
3、设备燥声控制 65dB

结构特点：

  • 温度冲击范围：-90℃/-80℃/-70℃~+230℃

  • ·温度分辨率：≤0.1℃

  • ·温度转换时间：≤10S-15S

  • ·温度波动度：±0.3℃

  • ·采用SCR功率调节器，温度性能更稳定

  • ·制冷系统：单机自复叠制冷机组，自研混合制冷剂

  • ·温度监控：配备T型和K型热电偶

  • ·冲击头：单/双冲击头可选，另配有显示器便于使用

  • ·系统接口：USB、LAN、GPIB、RS232·冷却方式：风冷


工作原理：

1、试验机输出汽流罩将被测试品罩住，形成一个较密闭空间的测试腔，试验机输出的高温或低温气流，使被测试品表面温度发生剧烈变化，从而完成相应的高低温冲击试验。
2、可针对众多元器件中的某一单个IC或其它元件，将其隔离出来单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件，与传统冷热冲击试验箱相比，温变变化冲击速率更快。
3、将被控温度的压缩机空气从气嘴喷射出来，仅仅只需要数秒钟的时间就可以达到一个温度试验必须的环境，与普通的高低温冲击试验箱相比较，大大的缩短了试验时间，提高生产效率。

主要技术指标：

型号 50AX10S 60AX10S 70AX10S 80AX10S 90AX10S
箱体设计
重量KG180180200200220
外尺寸（cm）W500500500660660
H12001200120012001200
D850850850850850
温度试验参数
温度范围℃-50~+225-60~+225-70~+225-80~+225-90~+225
升温变化速度（空载）sec-25℃～+85℃ 约7S-35℃～+85℃ 约9S-45℃～+85℃ 约10S-55℃～+85℃ 约11S-65℃～+85℃ 约12S
降温变化速度（空载）sec+85℃~-25℃约7S+85℃~-35℃约9S+85℃~-45℃约10S+85℃~-55℃约12S+85℃~-65℃约20S
温度变化稳定时间sec22222
温度偏差℃±1±1±1±1±1
温度显示精度℃0.1
温度过冲℃≤2
气流输出流量SCFM/ L/min5～ 18 SCFM （141L～507L/min）（注：更大流量可定制）
供电与连接
额定电压VAC 220V 50HZ 单相
最大电流A

202228
最大功率KW

4.95.16.1
控制方式
使用环境温度/湿度/气压℃/RH/kPa环境温度为5～35℃、相对湿度≤  85%RH、气压(86～106)kPa
系统部件
材料外壳材料2.0mm双面电解板，表面喷塑处理
隔热材料高密度岩棉+耐高温高密度聚氨酯发泡
制冷系统制冷方式风冷式自复叠式制冷方式
制冷机泰康
冷媒复合冷媒
加热器镍铬丝
温度传感器T型热电偶
温度控制器SA7-2020
噪音dB（A)65
附件135mm玻璃罩
安全装置压缩机超压（内部）/电机过热（内部）/电机过流  加热丝超温

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